1.丰富的InAsP,GaAs,GaNg,SiC等高价值特种芯片分选经验
2.可针对大薄芯片分选进行特殊定制优化设计,确保分选万无一失
3.具备视觉缺陷检测
4.支持设备联网、支持SECS/GEM协议
设备型号
Model
设备性能
System Capability
物料处理能力
Material
Handing Capability
芯片尺寸 Die Size
0.2-7mm
90um
分选方式
Sorting method
Wafer to Gel-Park
Wafer to Wafer
Gel-pak to Gel-pak
Gel-pak to Wafer
设备尺寸
Dimensions
辅助功能
Auxiliary Functions
晶圆去静电 Wafer ESD
AOI功能
常规物理缺陷检测:崩边、缺角、脏污
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