工艺挑战
该客户专注于 VCSEL 芯片(GaAs 材质)研发与制造,产品用于车载激光雷达发射器件。芯片尺寸<0.15mm,厚度<100μm,来料方式为蓝膜,将多颗VCSEL阵列芯片整体贴装至 PCB 基板。
- 小芯片拾取:顶针顶取作业易造成蓝膜顶裂、芯片破损碎裂
- 小芯片识别:微小阵列芯片视觉识别稳定性差,易识别失败
- 点胶要求严格:要求侧壁爬胶覆盖70%以上,四周溢胶,实际生产中容易回吸
该客户专注于 VCSEL 芯片(GaAs 材质)研发与制造,产品用于车载激光雷达发射器件。芯片尺寸<0.15mm,厚度<100μm,来料方式为蓝膜,将多颗VCSEL阵列芯片整体贴装至 PCB 基板。
依托 ZX2200多芯片灵活生产平台,针对工艺挑战,完成以下优化:
针对蓝膜划伤、芯片顶裂问题:优化设备顶取运动控制逻辑,搭配柔性缓冲工艺参数,适配蓝膜与超薄芯片的物料特性,弱化顶取瞬间冲击力,减少薄膜破损、芯片损伤问题。
针对芯片识别不稳定、识别失败问题:升级视觉成像配套方案与识别逻辑,强化微小芯片轮廓捕捉能力,提升芯片抓取定位的稳定性,降低识别异常频次。
针对胶水回吸、爬胶高度不达标问题:优化整套点胶控制流程,调整出胶、断胶整套工艺参数,改善胶体回缩现象,保证批量生产下侧壁爬胶高度均匀统一。
优化方案在客户产线稳定运行后,综合良率从不足92%提升至99.8%,稳定支撑客户车载激光雷达发射模组规模化交付。
客户反馈:「通过优化后满足点胶要求,还帮助我们解决了蓝膜顶裂问题。」