±38μm · 摆臂式分选 · 8寸晶圆
睿芯 RX2000SP3 支持膜到膜,盒到盒,盒到膜,膜到盒分选方式,可支持拼版晶圆,多bin晶圆图分选,灵活适配不同生产场景需求。
RX2000 系列累计出机上百台,10年以上稳定生产交付经验,累计服务超过30+客户
InP、GaAs、GaN、SiC等高价值特种芯片分选经验
针对化合物半导体、第三代半导体材料优化分选工艺
针对大/薄/小/脆芯片优化
吸嘴工具定制优化
顶针工具定制优化
设备联网定制
扫码枪&CCD识别
条形码&二维码识别
Mapping图(TXT格式)
Map读取/解析/保存
焊头力控范围30~220g
焊头力控精度±10g
真空漏晶检测
晶圆尺寸Max 8 inch(铁环、子母环选配)
Waffle/Gel-pak尺寸:2 inch x 4 / 4 inch x 2晶圆去静电:离子风机
| 参数项 | RX2000 SP3 标准版 |
|---|---|
| XY放置精度 | ±38μm |
| 角度放置精度 | ±3° |
| UPH | Max 4K Max 2K(开启AOI功能) |
| 支持芯片尺寸 (范围外来样验证) | L*W: 0.25-7mm T: 100-500μm |
| 支持晶圆尺寸 | Max 8 inch(铁环、子母环选配) |
| 支持Waffle/Gel-pak尺寸 | 2 inch x 4 / 4 inch x 2(选配) |
| 焊头力控范围 | 30~220g |
| 焊头力控精度 | ±10g |
| 晶圆去静电 | 离子风机 |
| 墨点芯片检测 | 支持 |
| 焊前检测 | 支持 |
| Mapping图 | 支持(TXT格式,mapping读取、解析、保存) |
| 漏晶检测方式 | 真空检测 |
| 重量 | 1000 kg |
| 外形尺寸(WxDxH) | 1100*1450*1600 mm(不含三色灯) |
晶圆膜到晶圆膜的分选,支持同规格或不同规格晶圆膜之间的芯片转移
芯片盒到芯片盒的分选,支持华夫盒、凝胶盒等多种载具间的芯片转移
晶圆膜到芯片盒的分选,将晶圆膜上的芯片分选至华夫盒或凝胶盒中
芯片盒到晶圆膜的分选,将盒装芯片重新排列至晶圆膜上
将同一片晶圆上不同项目、不同等级的芯片,依据晶圆图(Mapping)分类放置到不同载具中
依据晶圆图,将不同Bin等级的芯片从原晶圆膜上分拣并重新排列至新的晶圆膜或华夫盒中
支持特殊位置、自定义图形摆盘,满足各类非标工艺要求
RX2000 系列覆盖集成电路、光通讯、功率半导体、射频微波、MEMS 传感等多种应用领域
QFP / BGA / LGA / QFN 等传统封装芯片
GPU / NPU / HBM 等高性能计算芯片
惯性传感器、压力传感器、微镜等 MEMS 器件芯片
MMIC / PA / LNA 等微波射频器件芯片
VCSEL / EML / 硅光芯片的高精度分选,满足光通讯与传感需求
灵活工艺和上下料方式选配,结构化设计支持从研发到小批量到量产的快速平滑升级
艾科瑞思提供从工艺评估到量产的全程技术支持,模块化配置灵活适配客户不同生产场景需求
提供芯片规格、载具类型、产能目标、分选功能需求,技术团队出具可行性报告与推荐配置方案(精度/力控/上下料方式等)
在封装实验室使用实际芯片进行打样验证,提供完整分选报告及工艺建议,支持免费试样
整机调试交付,现场工艺调试与操作培训,1个操作员即可上手,确保首片合格即投产,标准交付周期45天以内
本土化8小时响应+48h现场到达,工艺持续优化建议与备件快速供应保障,配备专业封装实验室提供工艺优化与功能定制
我们的技术团队将根据您的具体需求,提供定制化解决方案和详细技术资料